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试剂仪器? title=
位置9a href="/">首页> 仪器> 扫描探针显微?SPM(原子力显微镜)
Bruker Dimension? Icon?原子力显微镜
Bruker Dimension? Icon?原子力显微镜图片
型号: Dimension? Icon?
品牌: 布鲁兊/td>
产地: 德国
仪器种类: 原子力显微镜
样品台移动范図 180mm × 150mm可视区域
样品尺寸: 210mm 真空吸盘样品台;夹具,直 ?10mm, 厚度 ?5mm
定位检测噪? X-Y定位噪音(闭环)90.15nm RMS,典型成像带?达到625Hz)
X-Y定位噪音(开?90.10nm RMS,典型成像带?达到625Hz)


产品介绍

AFM检测性能的全新定么/span>
适合更宽应用领域的最高性能的大样品AFM成像
◅/span> 对所有AFM样品提供最高性能的测野br/>◅/span> 提供更广泛的AFM模式与应?br/>◅/span> 提供定量的纳米材料性能图谱
◅/span> 由创新的峰值力模式实现
Bruker Dimension? Icon? 原子力显微镜为工业界和科研界纳米领域的研究者带来了全新的AFM应用体验,其测试功能强大,操作简便易行。仍然以世界上应用最广泛的AFM大样品平台为基础,齐 Dimension系统数十年的技术经验,广大客户反馈,结合工业领域的设备需求,进行全面革新。全新的系统设计,实现了前所未有的低漂移和低噪音水平,现在用户只需要几分钟就可获得真实准确的扫描图像、br/>
Dimension? Icon?优秀的图像分辨率,与Bruker特有的电子扫描算法相结合,显著提升了测量速度与质量。Dimension?系列大样品台原子力显微镜始终处于行业××地位,最新的Dimension? Icon?是针尖扫描技术的又一次革新,配置温度补偿位置传感器,实现了Z轴亚埃级和XY轴埃级的低噪音水平,将其应用?0微米扫描范围的大样品台体系上,效果甚至优于高分辨小样品台AFM的开环噪音水平。全新设计的XYZ闭环扫描头,即使在较高的扫描速度工作时,也不会损坏图像质量,实现了更大的数据采集输出量、br/>终极体验
◅/span>独特的传感器设计,在闭环条件下,也能实现大样品台、针尖扫描的AFM具有与开环噪音水平一样的低噪音水平,且具有极高的扫描分辨玆br/>◅/span>极大地降低噪声水平,在轻敲模式下低于30pm,接触模式下可获得原子级图像
◅/span>热漂移速率低于200pm/分钟,获得真正的样品图像
高效玆br/>◅/span>XYZ闭环扫描器的完美设计,使仪器在较高扫描速度工作时,也不降低图像质量,具有更大的数据采集效率
◅/span>将十年的研发经验融入到参数预设置中,在新的NanoScope? 软件带有默认的实验模式、br/>◅/span>高分辨率相机和X-Y定位可快速、高效地找到样品测量位置
全功胼br/>◅/span>针尖和样品之间开放式的空间设计,不仅可以进行各种标准实验,也可以自行设计实验方案,满足不同研究工作的需汁br/>◅/span>硬件和软件技术的不断创新,新开发的HarmoniX 模式,可以测量纳米尺度上材料性质
◅/span>用户实用程序脚本提供半自动测量方案和数据分析
技术参数:

X-Y scan range
X-Y方向扫描范围
90?m x 90?m typical, 85?m minimum
90?m × 90?m 典型值,最?5?m
Z range
Z方向扫描范围
10?m typical in imaging and force curve modes, 9.5?m minimum
在成像及力曲线模式下典型值为10μm;最?.5μm
Vertical noise floor
垂直方向噪音基底
< 30pm RMS in appropriate environment typical imaging bandwidth (up to 625Hz)
< 30pmRMS, 在合适的环境及典型的成像带宽(达到625Hz)
X-Y position noise(closed-loop)
X-Y定位噪音(闭环)
?.15nm RMS typical imaging bandwidth (up to 625Hz)
?.15nm RMS,典型成像带?达到625Hz)
X-Y position noise(open-loop)
X-Y定位噪音(开?
?.10nm RMS typical imaging bandwidth (up to 625Hz)
?.10nm RMS,典型成像带?达到625Hz)
Z sensor noise level(closed-loop)
Z传感器噪音水?闭环)
35pm RMS typical imaging bandwidth (up to 625Hz);
50pm RMS, force curve bandwidth (0.1Hz to 5kHz)
35pm RMS,典型成像带?达到625Hz);
50pm RMS,力曲线成像带宽(0.1Hz to 5kHz)
Integral nonlinearity(X-Y-Z)
整体线性误?X-Y-Z)
< 0.5% typical
< 0.5% 典型倻/span>
Sample size/holder
样品尺寸/夹具
210mm vacuum chuck for samples, ?10mm diameter, ?5mm thick
210mm 真空吸盘样品台;夹具,直 ?10mm, 厚度 ?5mm
Motorized position stage
(X-Y axis)

电动定位样品?X-Y?
180mm × 150mm inspectable area;
2?m repeatability, unidirectional;
3?m repeatability, bidirectional
180mm × 150mm可视区域;
单向2?m重复?
双向3?m重复?/span>
Microscope optics


显微镜光学系绞br/>
5-megapixel digital camera;
180?m to 1465?m viewing area;
Digital zoom and motorized focus
五百万像素数字照相机;
180?m?465?m可视范围;
数字缩放及自动对焦功胼/span>
Controller
控制?/span>
NanoScope V
NanoScope V型控制器
Workstation

工作竘/span>
Integrates all controllers and provides ergonomic design with immediate physical
and visual access
整合所有控制器、结合人体工学设计,提供直接的物理或可视接口
Vibration isolation
振动隔绝
Integrated, pneumatic
整体式气动减震台
Acoustic isolation
声音隔绝
Operational in environments with up to 85dBC continuous acoustic noise
可隔绝环境中85 dBC的持续噪韲/span>
AFM modes
AFM模式
Standard:ScanAsyst, PeakForce Tapping, TappingMode (air), Contact Mode, Lateral
Force Microscopy, PhaseImaging, Lift Mode, MFM, Force Spectroscopy, Force Volume,
EFM, Surface Potential, Piezoresponse Microscopy, Force Spectroscopy;
Optional:PeakForce QNM, HarmoniX, Nanoindentation, Nanomanipulation,
Nanolithograpy, Force Modulation (air/fluid), TappingMode (fluid), Torsional
Resonance Mode, Dark Lift, STM, SCM, C-AFM, SSRM, PeakForce TUNA,TUNA,
TR-TUNA, VITA
Certification
认证
CE

布鲁?北京)科技有限公司
电话:点击&查看
联系亹 销售部
邮编: 100081
地址: 北京海淀区中关村南大?1号光大国信大?216宣/span>
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