[ 登录] [ 免费注册]
试剂仪器? title=
位置9a href="/">首页> 仪器> 扫描探针显微?SPM(原子力显微镜)
Dimension? Edge?原子力显微镜
Dimension? Edge?原子力显微镜图片
型号: Dimension? Edge?
品牌: 布鲁兊/td>
产地: 德国
仪器种类: 原子力显微镜
样品台移动范図 150mm × 150mm 可视范围
样品尺寸: 直径 150mm,真空吸附;厚度 15mm


产品介绍

最物超所值的高性能原子力显微镜
适合各种研究者预算要求的同级别最高性能的原子力显微镛br/>? 任何样品上同级别最高性能表现
? 高重现性的测量
? 结合ScanAsyst自动成像参数优化技术,最易操作的AFM成像
? 由创新的峰值力模式实现
Dimension? Edge? 原子力显微镜采用**** 其仪器性能、测试功能和操作性在同类产品中处于最高水平。Dimension系列中性价?**闭环扫描原子力显微镜,专利的传感器设计显著地降低噪音和漂移,既获得了闭环的精度,又具有开环的噪音水平,在大样品台AFM上实 了小样品台AFM的成像性能、br/>
性价?**闭环Dimension系列AFM
?独有的传感器设计既获得了闭环的测量精度,又具有开环的低噪音水干br/>?显著地降低噪音和漂移,在大样品台AFM上实现了小样品台AFM的成像性能
?显微镜和电路的设计既保证了高成像性能,并且提供一个合适的仪器价格
快速,精确,高分辨的测量结枛br/>?直观、优化的工作流程,确保短时间内即根据实验情况优化设置
?5百万像素的高分辨率相机和马达驱动可编程平台可提供快速样品导航和高效的多点测野br/>?从大范围扫描到最高分辨检测的无缝过渡可在短时间内获得准确结果
适用于任何实验样品和研究目的的解决方桇br/>?开放式平台设计可适应各种实验和样品的需汁br/>?仪器设计和软件开发使用Bruker最全面的AFM技术,满足**使用需汁br/>?内置的信号路由模块帮助研究者可以按照不同的研究方向制定相应的实验方桇br/>拥有先进的纳米级测量能力,适用范围广泛
?模块化设计不增加仪器成本的前提下,大大提高仪器性能
?凝聚?0年AFM专业设置精华的第8代数据采集处理软件,配备特定实验模式选项
?完整平台控制既可直观导航,又可进行强大的编程控制

Dimension Edge Specifications
X-Y Scan Range 90μm x 90μm typical, 85μm minimum
Z Range 10μm typical in imaging and force ramp modes, 9.5μm minimum
Vertical Noise Floor <50pm RMS in appropriate environment, typical imaging bandwidth (up to 625Hz)
XY Position Sensor Noise Level
(Closed Loop)
<0.5nm RMS typical imaging bandwidth (up to 625Hz)
Z Position Sensor Noise Level
(Closed Loop)
<0.2nm RMS typical imaging bandwidth (up to 625Hz)
Sample/Size/Holder 150mm vacuum chuck, 15mm thick; Up to 40mm thick with optional frame spacer
Motorized Positioning Stage
(X-Y axis)
150mm x 150mm inspectable area; Programmable for multi-site measurements
Microscope Optics 5-megapixel digital camera;
180μm to 1465μm viewing area;
Digital zoom and motorized focus
Signal Access Configurable I/O signal access built into controller;
Includes customizable signal routing, digital feedback, and dual digital lock-in
Single Point Spectroscopy Three-axis closed loop control for point-and-shoot positioning and ramping;
Spring constant calibration with built-in thermal tune
Sample Temperature Control -35 to +250°C with optional heater/cooler accessory;
Includes gas purging capability
AFM Modes
Standard Contact Mode, Lateral Force Microscopy, TappingMode?, PhaseImaging?, LiftMode,
Magnetic Force Microscopy, Electric Force Microscopy, Dark Lift, Force Spectroscopy,
Nanoindentation, Nanolithography, Adhesion, ScanAsyst
Optional Scanning Tunneling Microscopy, Conductive AFM, Tunneling AFM, Scanning Capacitance
Microscopy, Surface Potential Microscopy, Piezoresponse Microscopy, Force Modulation
Microscopy, Liquid Imaging, Thermal Analysis, Electrochemical AFM
Probes Visit www.brukerAFMprobes.com to see our ocmprehensive listing of probes, including
Bruker-exclusive ScanAsyst probes
Facility Requirements
Vibration Isolation Vibration isolation table or integrated vibration/acoustic isolation enclosure required
Laser Classification Class 2M
Certification CE

布鲁?北京)科技有限公司
电话:点击&查看
联系亹 销售部
邮编: 100081
地址: 北京海淀区中关村南大?1号光大国信大?216宣/span>
同品牌产品:
猜您感兴趢/div>
换一扸/a>
来访登记
请留下您的联系方式,登记完成即可查看电话与供应商联系,或等候供应商联系您、/div>
留言类型9/div>
*姓名9/div>
*电话9/div>
*单位9/div>
Email9/div>
*留言内容9/div>
请说明需求数量,型号规格以及纯度含量等要求
*验证码:
Baidu
map