功能及原琅�/strong>

Ux-720新一代国产专业镀层厚度检测仪，采用高分辨率的Si-PIN(或者SDD硅漂移探测器)，测量精度和测量结果业界××、�/span>

采用了FlexFP-Multi技术，无论是生产过程中的质量控制，还是来料检验和材料性能检验中的随机抽检和全检，我们都会提供友好的体验和满足检测的需求、�/span>

Ux-720微移动平台和高清CCD搭配，旋钮调节设计在壳体外部，观察移动位置简单方便、�/span>

X射线荧光技术测试镀层厚度的应用，提高了大批量生产电镀产品的检验条件，无损、快速和更准确的特点，对在电子和半导体工业中品质的提升有了检验的保障、�/span>

Ux-720镀层测厚仪采用了华唯最新专利技术FlexFp -Multi，不在受标准样品的限制，在无镀层标样的情况下直接可以测试样品的镀层厚度，测试结果经得起科学验证、�/span>

可以实现全自动一键操作功能，准直器自动切换，滤光片自动切换，开盖随意自动停，样品测试照片自动拍照、自动保存，测试报告自动弹出，信息自动筛选和保存…�?/span>

标准配件

样品固定支架1�?/span>

窗口支撑薄膜�?00弟�/span>

保险管：3�?/span>

计算机主机：品牌+双核

显示屏：19吋液晵�/span>

打印机：喷墨打印朹�/span>

可选配仵�/span>

可升级为SDD探测�?/span>

样品移动设计为样品腔外部调节，多点测试时移动样品方便快捷，有助于提升效率、�/span>

设计更科学，软硬件配合，机电联动，辐射安全高于国标GBZ115-2002要求、�/span>

软件操作具有操作人员分级管理权限，一般操作员、主管使用不同的用户名和密码登陆，测试的记录报告同时自动添加测试人的登录名称、�/span>

产品规格９�/strong>

测厚技术：X射线荧光测厚技�?/span>

测量下限�?.003um

测量上限�?0-50um(以材料元素判�?

测量层数�?0屁�/span>

测量用时�?0-120科�/span>

探测器类型：Si-PIN电制冶�/span>

探测器分辨率�?45eV

高压范围�?-50KV�?0W

X光管参数�?-50KV�?0W，侧窗类：�/span>

光管靶材：Mo靶；

滤光片：专用4种自动切换；

CCD观察�?60万像紟�/span>

微移动范围：XY15mm

输入电压：AC220V�?0/60Hz

测试环境：非真空条件

数据通讯：USB2.0模式

准直器：?0.5mm�?#216;1mm�?#216;2mm�?#216;4mm

软件方法：FlexFP-Mult

工作区：开放工作区自定么�/span>

样品腔：330×350×75mm

应用领域

用于电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业，专门针对金属合金、铝型材、塑料等材料镀层分析、达克罗涂覆层分析。可对客户样品镀层膜厚测试、基材成分分析、�/span>