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XQ60-Z1光学测角比较?/div>
XQ60-Z1光学测角比较仪图?></a></div>    <span style=
品牌: 天光
产地: 天津
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品牌: 天光
产地: 天津
产品别名: XQ60-ZII光学测角比较?br />
产地类别: 国产仪器设备
产品介绍

光学测角比较?/strong>是用比较的方法测定角度的良好仪器,它与标准件或角度块规比较可测量金属与光学零件的角度;测量导轨的直线性;测量零件部件的平行度;测量两个平面的垂直度。此外,还可以与多面体或角度块组合使用进行分度测量等工作、/span>

光学测角比较?/strong>

适用范围:

一线车间加工过程中的监控与检骋/span>

工厂计量室的标准与质量评刣/span>

科研院所的产品研发与教学演示

应用范围:

●光学平板、棱镜的自准测量

●参照标准角规的比较测量

●导轨及平面的直线度、垂直度校准测量

特点:

该系列仪器操作简便直观,测量稳定可靠,借助辅助

设备用途更广泛

技术参数:

型号 视倻/span> 分度范围 目视放大玆/span> 视值不确定?/span> 工作距离 外形尺寸(L .xHxW)
XQ60-Z1 1‘/span> V60 ',H40' 10*/15* ?“/span> 0?.4m 200 x 250x 400
XQ60-ZII 15‘/span> V50 ',H38‘/span> 10*/15* ?“/span> 0?.4m 200x250x400
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