SuperViewW1三维表面白光干涉�?/strong>是一款用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量的检测仪器。它是以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块�?D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表�?D图像，通过系统软件对器件表�?D图像进行数据处理与分析，并获取反映器件表面质量的2D�?D参数，从而实现器件表面形�?D测量的光学检测仪器。它采用了CCD取代了显微镜中的目镜，可以直接从电脑上实时视频窗口观察样品表面形貌，也可以通过重建后的样品表面3D图像观察表面形貌，样品表面形貌展示得更加清晰，图像更大，观察更加方便、�/p>

产品功能

1）设备提供表征微观形貌的粗糙度和台阶高、角度等轮廓尺寸测量功能：�/p>

2）测量中提供自动对焦、自动找条纹、自动调亮度等自动化辅助功能：�/p>

3）测量中提供自动拼接测量、定位自动多区域测量功能：�/p>

4）分析中提供校平、图像修描、去噪和滤波、区域提取等四大模块的数据处理功能；

5）分析中提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能：�/p>

6）分析中同时提供一键分析和多文件分析等辅助分析功能、�/p>

结果组成

1、三维表面结构：粗糙度，波纹度，表面结构，缺陷分析，晶粒分析等；

2、二维图像分析：距离，半径，斜坡，格子图，轮廓线等；

3、表界面测量：透明表面形貌，薄膜厚度，透明薄膜下的表面：�/p>

4、薄膜和厚膜的台阶高度测量；

5、划痕形貌，摩擦磨损深度、宽度和体积定量测量：�/p>

6、微电子表面分析和MEMS表征、�/p>