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JW-DX动态独立吸附法比表面测定仪
JW-DX动态独立吸附法比表面测定仪图片
型号: JW-DX
品牌: 精微高博
仪器类别: 比表面分析仪
仪器原理: 动态色谱法


产品介绍

JW-DX型动态吸附比表面测定仪,JW发明专利,创新的结构,每个样品单独吸附,互不干扰,吸附峰尖锐,灵敏度大大提高,通过吸附峰直接对比得到比表面,测试准确、稳定,比表面下限降低一个数量级,非常适合电池正负极材料尤其是石墨等小比表面材料的检测。(发明专利?01410320453.2(br/>技术参数:

原理方法9/span> 流动色谱法,低温氮吸附;
测试功能9/span> 直接对比法、BET比表面积快速测定;
测试范围9/span> ?.001m2/g:/span>
重复精度9/span> ±1.0%:/span>
分析站: 同时进行3个被测样品测试;
测试效率9/span> 平均每个样品5min:/span>
氮分厊/strong>9/span> P/P0 0.3:/span>
预处琅/strong>9/span> 可选配外置?站真空脱气机:/span>

产品特点9br/> 动态比表面测定,JW发明专利(专利号201410320453.2),采用吸附峰,测试过程简化,完全避免了样品脱附不完全可能带来的误差;
仪器设有4个独立分析位,可同时进行4个样品的比表面快速测定,测定范围0.01m2/g-500 m2/g,尤其适合小比表面样品测试:br/> 每个样品独立进行吸附,实现了多样品的无干扰、无差异测试,完全保证四个样品站测试结果的平行性;测试重复精度≤ 1.0%:br/> ?nbsp; 每个样品气路直接与热导检测器相连,不受其他气路冲淡,吸附峰尖锐,灵敏度大大提高,非常适合小比表面样品的测定;
仪器内部管路连接方式采用快插式接头连接,方便、快捷、耐用、不漏气,完全满足常压下动态色谱法比表面积测试的要求,人性化设计:br/> ?nbsp; 采用热导池检测器恒温系统,确保测试结果的稳定性,大大减小测量误差:br/> 自主研发的全自动数据采集及处理软件,先进而简便,操作极为方便,具有开拓性、时代性!
仪器规格:长610mm×?60mm×?90mm, 重量?0Kg:br/> 使用电源要求:交?20V±20V?0/60HZ,最大功?00W:br/>
可选脱气机参数9br/>1. 脱气站:4站;
2. 脱气温度:室温?00℃?℃;
3. 真空泵极限真空:100Pa:br/> 4. 规格:长400mm×?00mm×?50mm, 重量?0 Kg:br/> 5. 使用电源要求:交?20V±20V?0/60HZ,最大功?00W:br/>应用领域9br/> 电池材料:钴酸锂、锰酸锂、磷酸铁锂、石墨、三元材料等正负极材料;
医药辅料等其他小比表面材料;

北京精微高博科学技术有限公号/span>
电话:点击&查看
联系亹 销售部
邮编: 100081
地址: 北京市西城区广安门南滨河?3号立恒名?号楼2206
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