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电子显微镜 >> 扫描探针显微镜/SPM(原子力显微镜)
Bruker Dimension? FastScan?原子力显微镜
Bruker Dimension? FastScan?原子力显微镜图片
型号: Dimension? FastScan?
品牌: 布鲁克
产地: 德国
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型号: Dimension? FastScan?
品牌: 布鲁克
产地: 德国
半岛游戏平台官网入口网址 种类: 原子力显微镜
样品台移动范围: 180mm × 150mm可视区域
样品尺寸: 210mm 真空吸盘样品台;夹具,直径 ≤210mm, 厚度 ≤15mm
定位检测噪声: X-Y定位噪音(闭环):<0.20nm RMS,典型成像带宽(达到625Hz)
半岛bd体育手机客户端 介绍

世界最高效的原子力显微镜性能的新标杆

Dimension FastScan System Configuration:
(1) Acoustic and Vibration Isolation Enclosure;
(2) Scanners;
(3) Ultra-Stable High-Resonance Microscope Base;
(4) 30” Monitor and FastScan NanoScope Software;
(5) Computer;
(6) NanoScope V, Stage Controller and H

·对所有AFM样品提供终极性能测量
·更快的呈现高质量数据
·提供定量的纳米材料性能图谱
·由创新的峰值力模式实现

Dimension FastScan? 原子力显微镜 (AFM)在不损失Dimension? Icon?超高的分辨率和卓越的半岛游戏平台官网入口网址 性能前提下,最大限度的提高了成像速度。这项突破性的技术创新,从根本上解决了AFM成像速度慢的难题,大大缩短了各技术水平的AFM用户获得数据的时间。
为提高AFM使用效率和检测性能,Bruker开发了这套快速扫描系统,不降低分辨率,不增加操作复杂性,不影响半岛游戏平台官网入口网址 使用成本的前提下,帮助用户实现了利用Dimension快速扫描系统,即快速得到高分辨高质量AFM图像的愿望。当您对样品进行扫描时,无论设置实验参数为扫描速度 > 125Hz,还是在大气下或者溶液中1秒获得一张AFM图像,都能得到优异的高分辨图像。快速扫描这一变革性的技术创新重新定义了AFM半岛游戏平台官网入口网址 的操作和功能。
卓越的半岛游戏平台官网入口网址 检测性能
·在空气或液体中成像速度是原来速度的100倍,自动激光调节和检测器调节,智能进针,大大缩短了实验时间。
·自动测量软件和高速扫描系统完美结合,大幅提高了实验数据的可信度和可重复性。
无与伦比的测量分辨率
·Fastscan精确的力控制模式提高了图像分辨率的同时,延长了探针的使用寿命。
·扫描速度20Hz时仍能获得高质量的TappingModeTM图像,扫描速度6Hz仍能获得高质量的ScanAsyst图像。
·低噪音,温度补偿传感器展现出亚埃级的噪音水平。
全面的测试功能,适用于各类AFM样品
·闭环控制的Icon和FastScan的扫描器极大的降低了Z方向噪音,使它们Z方向的噪音水平分别低于30pm和40 pm,具有超低的热漂移率,可得到超高分辨的真实图像。
·Fast Scan可以对不同样品进行测量,保证扫描过程中从埃级到0.1μm的高精度无失真扫描。
不论您选择Icon扫描器获得超低噪音和超高分辨率的图像,还是选择Dimension FastScan AFM的扫描器进行高速扫描检测,Dimension FastScan AFM系统都会帮助您将半岛游戏平台官网入口网址 的功能开发到最大程度,实现其它单一模式的半岛游戏平台官网入口网址 所达不到的效果。
技术参数:

Parameter Icon AFM Scanner FastScan AFM Scanner
X-Y scan range
X-Y方向扫描范围
90?m x 90?m typical, 85?m minimum
90?m × 90?m 典型值,最小85?m
35μm x 35μm typical, 30μm minimum
35?m × 35?m 典型值,最小30?m
Z range
Z方向扫描范围
10?m typical in imaging and force curve modes,
9.5?m minimum
在成像及力曲线模式下典型值为10μm;最小9.5μm
≥3μm
Vertical noise floor
垂直方向噪音基底
<30pm RMS in appropriate environment typical
imaging BW (up to 625Hz)
<30pmRMS, 在合适的环境及典型的成像带宽(达到625Hz)
< 40pm RMS, sensor in appropriate
environment (up to 625Hz)
< 40pmRMS, 在合适的环境(达到625Hz)
X-Y tip-velocity max.
(1% tracking error)
>2mm/Sec
Z tip-velocity max. 12mm/Sec
X-Y position noise
(closed-loop)
X-Y定位噪音(闭环)
≤0.15nm RMS typical imaging BW (up to 625Hz)
≤0.15nm RMS,典型成像带宽(达到625Hz)
≤0.20nm RMS typical imaging BW
(up to 2.5kHz in Adaptive)
≤0.20nm RMS,典型成像带宽(达到625Hz)
X-Y position noise
(open-loop)
X-Y定位噪音(开环)
≤0.10nm RMS typical imaging BW (up to 625Hz)
≤0.10nm RMS,典型成像带宽(达到625Hz)
Z sensor noise level
(closed-loop)
Z传感器噪音水平(闭环)
35pm RMS typical imaging BW (up to 625Hz);
50pm RMS, force curve BW (0.1Hz to 5kHz)
35pm RMS,典型成像带宽(达到625Hz);
50pm RMS,力曲线成像带宽(0.1Hz to 5kHz)
30pm RMS typical imaging BW (up to 625Hz)
30pm RMS,典型成像带宽(达到625Hz)
Integral nonlinearity(X-Y-Z)
整体线性误差(X-Y-Z)
<0.5% typical
<0.5% 典型值
≤0.5% typical
≤0.5% 典型值
Sample size/holder
样品尺寸/夹具
210mm vacuum chuck for samples, ≤210mm diameter, ≤15mm thick
210mm 真空吸盘样品台;夹具,直径 ≤210mm, 厚度 ≤15mm
Motorized position stage
(X-Y axis)
电动定位样品台(X-Y轴)
180mm × 150mm inspectable area; (180mm × 150mm可视区域;)
2?m repeatability, unidirectional; (单向2um重复性;)
3?m repeatability, bidirectional (双向3um重复性)
Microscope optics
显微镜光学系统
5-megapixel digital camera;
180?m to 1465?m viewing area;
Digital zoom and motorized focus
五百万像素数字照相机;
180 ?m 至 1465 ?m 可视范围;
数字缩放及自动对焦功能
5-megapixel digital camera;
130?m to 1040?m viewing area;
Digital zoom and motorized focus
五百万像素数字照相机;
130 ?m 至 1040 ?m 可视范围;
数字缩放及自动对焦功能
Controller
控制器
NanoScope V / NanoScope v8.15 and later
NanoScope V型控制器
Workstation
工作站
Integrates all controllers and provides ergonomic design with immediate physical
and visual access
整合所有控制器、结合人体工学设计,提供直接的物理或可视接口
Vibration and Acoustic
isolation
振动隔绝 与 声音隔绝
Integrated, refer to installation requirements for additional information
AFM modes
AFM模式
Standard:ScanAsyst, PeakForce Tapping,
TappingMode (air), Contact Mode, Lateral
Force Microscopy, PhaseImaging, Lift Mode, MFM,
Force Spectroscopy, Force Volume, EFM, Surface
Potential, Piezoresponse Microscopy, Force
Spectroscopy;
Optional:
PeakForce QNM, HarmoniX,
Nanoindentation, Nanomanipulation, Nanolithograpy,
Force Modulation (air/fluid), TappingMode (fluid),
Torsional Resonance Mode, Dark Lift,
STM, SCM, C-AFM, SSRM, PeakForce TUNA,TUNA,
TR-TUNA, VITA
Standard:ScanAsyst, Nanomechanical
Mapping, TappingMode (air), TappingMode
(fluid), PhaseImaging, Contact Mode,
Lateral Force Microscopy, Lift Mode,
MFM, EFM, Force Spectroscopy, Force
Volume
Optional:
Nanoindentation,
Nanomanipulation, Nanolithograpy,
Surface Potential, Piezoresponse
Microscopy
Certification
认证
CE

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